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OCR自动化瑕疵检测案例分析

嵌入式Jetson AI边缘运算平台为OCR自动化瑕疵检测提升8倍效能


市場概況

推动工业4.0,基于电脑系统运作的生产线或组装线,无不推进自动化、智慧化,对自动化量测中瑕疵检测的高效能机器视觉的要求也愈益提高,正如大家都知道的,产品缺陷将会造成产品完整性的威胁或效能破坏,而且所付出的成本非常高昂。

自动化瑕疵检验

问题核心

安提的合作伙伴思创影像科技,是业界知名的机器视觉设计公司和创新者,从事专业3D视觉技术和高速视觉检测软体开发,并深入研究机器视觉函式库的前端应用技术和知识。为了开发高精度的效能与缩短运作时间,他们希望开发一款基于CUDA技术的视觉检测设备,并让该设备以GPU加速的能效推进其视觉演算法。

解决方案

安提国际多元的嵌入式Jetson智慧平台,针对Nvidia嵌入式Jetson系列AI模块和TK1系统级芯片(SoC),除提供标准化尺寸载板,也提供客制化平台。此次以新载板ACE-N621和Jetson TX2超级计算机模块建构平台,并整合思创自家研发的VIVA Vision®-AOI演算法,为市场提供软韧体整合完备的高速视觉和智慧瑕疵检测良好开发解决方案,能支援文本识别、模式匹配、字符辨识、对象分割、条码阅读等。

该演算法高度运用了Jetson TX2内含的256个Nvidia Pascal CUDA核心,驱动强大CUDA平行计算能力。因此,相较相同演算法下其他平台的部署中,安提国际Jetson智慧平台,硬是能比X86平台提升至少8倍的性能。

议题结论

该设备在“文本辨识”中成功进行了演示,即使在非常高速旋转的情况下也能正确地识别文字条码。此方案具高度实用性,能实际复制于高速运作或旋转的产品瑕疵检测线上,同时对瑕疵部位进行精确办别。随着GPU所驱动的优越计算效能,安提国际所提供的ACE-N621-TX2成为精密制造,需求高效能与计算密集等工业自动化应用的理想选择,如AOI、OCR、一维/二维条码读取、三维量测、PCB检查、IC封装检查、面板检查等。



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