智能工厂AOI AI 智造瑕疵检测解决方案

自动光学检测（AOI）已成为各行各业的关键技术，用以提升产品检测质量。但传统的AOI系统仍存在许多挑战，常见问题在于AOI检测因传统光学图像比对算法限制，只能以设定好的参数标准为基准进行判断，有机会造成本是正常的良品会误判为瑕疵品。这些误判情况需要进一步的人工复检，消耗更多的时间和资源。

安提国际解决方案能够在既有AOI系统内串接AI制造瑕疵辨识，结合NVIDIA Metropolis for Factories技术及安提国际通过NVIDIA Certified Systems（NCS）3.0人工智能计算平台，结合AI技术，进行深度学习分析并作出最佳判定，提供既高效又精准的双重检测验证，进而减少复检人力成本。