智慧工廠 AOI AI 智造瑕疵檢測解決方案

自動光學檢測(AOI) 已成為各行各業的關鍵技術，用以提升產品檢測品質。但傳統的AOI 系統仍存在許多挑戰，常見問題在於AOI 檢測因傳統光學影像比對演算法限制，只能以設定好的參數標準為基準進行判斷，有機會造成本是正常的良品會誤判為瑕疵品。這些誤判情況需要進一步的人工複檢，消耗更多的時間和資源。

安提國際解決方案能夠在既有AOI 系統內串接AI 製造瑕疵辨識，結合 NVIDIA Metropolis for Factories 技術及安提國際通過NVIDIA Certified Systems（NCS）3.0 人工智慧運算平台，結合AI 技術，進行深度學習分析並作出最佳判定，提供既高效又精準的雙重檢測驗證，進而減少複檢人力成本。