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AOI AI 智造瑕疵檢測

智慧工廠 AOI AI 智造瑕疵檢測解決方案

融合AI瑕疵辨識 打破傳統檢測的局限性

自動光學檢測(AOI) 已成為各行各業的關鍵技術,用以提升產品檢測品質。但傳統的AOI 系統仍存在許多挑戰,常見問題在於AOI 檢測因傳統光學影像比對演算法限制,只能以設定好的參數標準為基準進行判斷,有機會造成本是正常的良品會誤判為瑕疵品。這些誤判情況需要進一步的人工複檢,消耗更多的時間和資源。

安提國際解決方案能夠在既有AOI 系統內串接AI 製造瑕疵辨識,結合 NVIDIA Metropolis for Factories 技術及安提國際通過NVIDIA Certified Systems(NCS)3.0 人工智慧運算平台,結合AI 技術,進行深度學習分析並作出最佳判定,提供既高效又精準的雙重檢測驗證,進而減少複檢人力成本。


AOI工廠的現況與挑戰

  • 誤判率 難降低

  • 人員訓練 費時

  • 檢測標準 不一致

  • 工廠人力 缺乏


方案特點

  • 採用NVIDIA強大技術
    最佳化GPU效能

  • 整體方案服務
    軟硬整合快速部署

  • 降低複檢工作負載
    減省產線人力成本

  • 快速更新AI模型
    提升檢測準確率


解決方案流程架構


實現高效瑕疵檢測與人力資源配置


安提服務模式

  • 先找安提Aetina

     
    1. 案場環境分析 (檢測內容、產線設備、預期效果)
    2. AOI機台資料取得與流程分析
    3. 專案導入效益與驗收條件設定
  • 轉型Become

     
    1. 現場機台架設
    2. 現場機台架設產品使用操作手冊提供
    3. 現場機台架設一個月內產品機種驗證
    4. 確認專案導入效益
  • 落地Completion

     
    1. 長期售後服務
    2. 人員訓練
    3. 版本升級
    4. 技術諮詢服務

AOI AI智造瑕疵檢測解決方案組合

 
NVIDIA Metropolis for Factories

軟體

NVIDIA
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硬體產品

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