AOI AIスマートファクトリー 欠陥検出ソリューション

自動光学検査 (AOI) は、製品品質を維持するために生産ラインでは不可欠なものになっています。しかしAOI装置は誤検出率が比較的高く、再検査を手作業で行わなければならないためコストがかかります。

Aetinaは、既存のAOIシステムとシームレスに統合する AOI AI スマートファクトリー欠陥検出ソリューション を開発しました。このソリューションにはファクトリー用NVIDIA MetropolisテクノロジーとAetinaのNVIDIA Certified System (NCS) 3.0 AIコンピューティングプラットフォームの双方の良さが取り入れられています。合理化されたデータ収集、効率的なモデルトレーニング、高度なAI欠陥認識による推論の精度は他に例がない高さですので再検査が必要かどうかの判断を極めて効率的に行うことができます。また、時間がかかる手動再検査作業が削減できるだけでなく、自動光学検査 (AOI) システムの精度が飛躍的に上がるため、人件費を大幅にカットできます。